目前涂层测厚仪(膜厚仪）所采用的原理基本是以下几种：
1. 放射性测厚法：利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵（一般在10万人民币以上）。适用于一些特殊环境，各项技术参数要求相对比较高，使用范围相对狭窄。
2. 超声波测厚法：利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵，测量精度也不高，国内暂时还没有投入生产。
3. 微波激光测厚法：正在研发中。
4. 电解测厚法：需要破坏涂层，属于有损检测，基本上已弃用。
5. 涡流测厚法：利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。
6. 磁性测厚法：适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪，这种方法测量结果精度高。
不知道您想了解哪种测厚仪的使用方法呢？
