光电耦合器的检测：
判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。
1. 比较法
拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
2. 数字万用表检测法
光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测时将光耦内接二极管的+端{1}脚和-端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡;然后将光耦内接光电三极管c极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在R×1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低;若表针不动，则说明光耦已损坏。
3. 光电效应判断法
以光耦合器的检测为例，将万用表置于R×1k电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚;然后用一节1.5V的电池与一只50～100Ω的电阻串接后，电池的正极端接PC111的{1}脚，负极端碰接{2}脚，或者正极端碰接{1}脚，负极端接{2}脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。
