XRF镀层测厚仪的原理是什么（磁性涂层测厚仪原理示意图）

原理：X射线荧光。

X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。