CDM 1和CDM 3的区别在于其使用的物理原理和测量范围不同。
CDM 1（Charged Device Model）是一种静电放电测试方法，它模拟了静电放电对芯片、器件和模块等元器件的影响。
而CDM 3则是指电机械撞击测试，它评估的是元器件在运输、安装和使用过程中受到的物理撞击的影响。
CDM 1的测试范围适用于0.18微米和更粗的工艺，而CDM3的测试范围适用于更精细的工艺。
总之，这两个测试方法的目的都是为了评估元器件的静电和物理耐受性能，以确保其可靠性和稳定性。
你好，cdm1和cdm3都是光纤光栅传感器的型号，它们的差别在于其测量范围和精度不同。cdm1的测量范围为0-2000με，精度为±1.5με。而cdm3的测量范围为0-600με，精度为±0.5με。根据不同的实际要求，可以选择不同型号的光纤光栅传感器以达到最优化的测量效果。
