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双缝干涉实验的官方解释(电子双缝干涉实验最新解释)

双缝干涉实验的官方解释(电子双缝干涉实验最新解释)

更新时间:2024-06-12 17:23:02

双缝干涉实验的官方解释

双缝干涉实验(double-slit experiment,或称双狭缝实验)是一种演示光子或电子等等微观物体的波动性与粒子性的实验。

在现代物理学中,双缝实验证明光和物质可以显示经典的波和粒子的特性;此外,它显示了量子力学现象的基本概率性质。这个实验是托马斯·杨在1801年首次用光进行的。他认为这证明了光波理论是正确的,他的实验有时被称为杨氏实验或杨氏狭缝。

双缝干涉实验是一种实验,用于测量光的波动性,以及研究光的干涉现象。它是由波尔曼和菲涅尔在1801年提出的,并由爱因斯坦在1905年证明了爱因斯坦的干涉原理。它的实验原理是,将一束光源在两个平行的缝隙之间通过,然后把两束光射向一个屏幕上,可以在屏幕上看到光的干涉图案。

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