1. 原子荧光SE代表原子荧光谱仪(Spectroscopic Ellipsometer)。
2. 原子荧光谱仪是一种用于测量材料的光学性质的仪器,主要用于分析材料的光学常数、薄膜厚度、表面形貌等参数。
3. 原子荧光谱仪通过测量材料对入射光的反射和透射光的偏振状态的变化来获取样品的光学信息,可以用于研究材料的光学性质、薄膜的生长过程以及材料的表面形貌等方面。
它在材料科学、物理学和化学等领域具有广泛的应用前景。
意思是用原子荧光光谱仪测定物质中se(硒)的含量。
1. 原子荧光SE代表原子荧光谱仪(Spectroscopic Ellipsometer)。
2. 原子荧光谱仪是一种用于测量材料的光学性质的仪器,主要用于分析材料的光学常数、薄膜厚度、表面形貌等参数。
3. 原子荧光谱仪通过测量材料对入射光的反射和透射光的偏振状态的变化来获取样品的光学信息,可以用于研究材料的光学性质、薄膜的生长过程以及材料的表面形貌等方面。
它在材料科学、物理学和化学等领域具有广泛的应用前景。
意思是用原子荧光光谱仪测定物质中se(硒)的含量。