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os测试的原理(芯片os测试的原理)

os测试的原理(芯片os测试的原理)

更新时间:2024-05-12 11:15:58

os测试的原理

MCU测试功能中,第一个需要测试的内容就是OS测试,其原理就是,通过在芯片的 GND pad 和 IO 引脚之间加上一个正向电压(弱驱动能力),此时在 GND 于 IO PAD之间会观测到 0.5~0.6V 的电压,即表征 OS 正常。

在CP阶段,我们对芯片进行OS测试时,都是只会连接芯片的两根引脚,即GND与IO_PAD,这样测试的结果就是GND与IO_PAD的压降,必然是准确的。

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