脉冲金属探测仪实际探测深度（脉冲探测器的缺点）

脉冲金属探测仪的实际探测深度取决于多个因素，包括探测器的频率、探测目标的大小和深度、土壤条件等。

一般来说，较高频率的探测器可以提供更高的分辨率，但深度较浅；而较低频率的探测器可以达到更深的探测深度，但分辨率较低。

此外，大型金属目标通常可以被探测到更深的深度，而小型目标则限制了探测深度。

最终的实际探测深度还受到土壤条件的影响，如含水量、矿化程度等。因此，脉冲金属探测仪的实际探测深度是一个综合考虑多个因素的结果。