回答如下:2.5次元测量有两种系统:
1. 2.5D测量系统:这种系统使用一种平面投影测量方法,通过测量目标物体在平面上的高度差来获取物体的高度信息。常见的2.5D测量系统包括轮廓投影仪、结构光测量仪等。
2. 高度测量系统:这种系统使用一种非接触式测量方法,通过测量物体表面的高度变化来获取物体的高度信息。常见的高度测量系统包括激光扫描仪、光学干涉仪等。
回答如下:2.5次元测量有两种系统:
1. 2.5D测量系统:这种系统使用一种平面投影测量方法,通过测量目标物体在平面上的高度差来获取物体的高度信息。常见的2.5D测量系统包括轮廓投影仪、结构光测量仪等。
2. 高度测量系统:这种系统使用一种非接触式测量方法,通过测量物体表面的高度变化来获取物体的高度信息。常见的高度测量系统包括激光扫描仪、光学干涉仪等。