计算公式为:δ=ΔYmax/ Y*100%
测试系统的输出与输入系统能否像理想系统那样保持正常值比例关系(线性关系)的一种度量。
根据半导体材料的压阻效应在半导体材料的基片上经扩散电阻而制成的器件。其基片可直接作为测量传感元件,扩散电阻在基片内接成电桥形式。当基片受到外力作用而产生形变时,各电阻值将发生变化,电桥就会产生相应的不平衡输出。
计算公式为:δ=ΔYmax/ Y*100%
测试系统的输出与输入系统能否像理想系统那样保持正常值比例关系(线性关系)的一种度量。
根据半导体材料的压阻效应在半导体材料的基片上经扩散电阻而制成的器件。其基片可直接作为测量传感元件,扩散电阻在基片内接成电桥形式。当基片受到外力作用而产生形变时,各电阻值将发生变化,电桥就会产生相应的不平衡输出。