CPK:强调的是过程固有变差和实际固有的能力;CMK:考虑短期离散,强调设备本身因素对质量的影响;
CPK:分析前提是数据服从正态分布,且过程受控;(基于该前提,CPK一定>0) CMK:用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况;