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场发射扫描电子显微镜与SEM区别

场发射扫描电子显微镜与SEM区别

更新时间:2023-04-19 07:38:35

场发射扫描电子显微镜与SEM区别

二次电子象分辨率:1.5nm 加速电压:0~30kV 放大倍数:10-50万倍连续可调工作距离:5~35mm连续可调倾斜:-5°~45° x射线能谱仪: 分辨率:133eV 分析范围:B-U 附件信息: 镀金镀炭仪 ISIS图像处理系统背散射探头 场发射扫描电镜,由于分辨率高,为纳米材料的研究提供了可靠的实验手段

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